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基于AFM的磁盘缺陷检测分析仪

行业类别：高性能、智能化仪器仪表
所处阶段：中试阶段
持有单位：北京大学
转让方式：技术许可,
转让价格：面议
预约服务

成果信息

磁盘缺陷检测分析仪通过提高磁头以及放大电路的灵敏度，发现纳米级的微小磁盘缺陷，对发现的缺陷进行精确定位，杜绝缺陷的遗失。还能使用光学和原子力显微镜对缺陷类型进行高效和深入的分析，最后通过软件系统输出详细的分析报告。)

背景介绍

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应用前景

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主办单位：娄底市科学技术局

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